Con el análisis extendido, que se realiza a través de microscopía electrónica SEM/EDX, se obtiene información sobre la composición química de las partículas y en consecuencia sobre su posible origen.
El análisis extendido se aplica en el ámbito de la optimización de procesos y la investigación de causas para obtener información complementaria sobre el origen de las partículas.
El análisis SEM/EDX es una técnica de análisis combinada que cuenta y mide las partículas utilizando un microscopio electrónico de barrido (SEM) y determina su composición material por medio de la espectroscopia de rayos X dispersiva de energía (EDX).
Asignando las partículas y su tamaño a clases de materiales específicos, se puede obtener información complementaria sobre su potencial de daño o posible fuente de origen.